试验探针的生命周期中每一个阶段都起着重要作用：从技术开发，到模型参数提取，再到设计验证及调试一直到小规模生产测试和生产测试。通过使用试验探针，人们便有可能在晶片层次上测量射频组件的真正特性。
试验探针的基本要求和工作原理：
1）试验探针的平面传输线应当直接与压点相接触而不用接触导线。对于微带线和随后的共面探针设计，探针的接触是用小的金属球来实现的，这个金属球要足够大以保证可靠且可重复性的接触。
2）为了能同时接触到信号压点和接地压点，需要将探针倾斜。这个过程被称为“探针的平面化”。
3）探针的接触重复性比同轴连接器的可重复性要好得多。便于进行探针极尖和在片标准及校准方法的开发。
4）具有很高重复性的接触可以进行探针的准确校准并将测量参考平面移向其极尖处。来自探针线和到同轴连接器的过渡所产生的探针的损耗及反射是通过由射频电缆和连接器的误差相类似的方式而抵消的。
5）由于其很小的几何尺寸，人们可以假设平面标准件的等效模型纯粹是集总式的。此外，人们可以从标准件的几何尺寸来很容易地预测模型参数。
试验探针的保养方法：
1、测试针清洁：保持测试针在清洁的状态下是有效的方法来大地减低失败率。
2、针头：再有一些状况不是只用刷子清洁就可以，因此用其他种类的溶剂或清洁化剂将会是后的替代方法。建议方法是只要清洁针头，就从冶具上移除测试针，捆在一起只用针头泡在浅浅的清洁剂中大约五分种，用软毛擦试，移除残留物，然后晒干它，这样就可以安装回去继续测试。
3、防尘套：有不少的治具厂都会提供防尘套以用来预防空污物掉落在测试针头与针管上，在真空的治具里，灰尘容易掉进测试针。
4、污渍清洁：为了不影响测试针管和侵害测试针内壁的接触面，从而导致阻抗的过速上升的情况，不要使用溶剂清洁测试针或使用溶剂浸泡来进行污渍清洁。
5、环境保养：测试环境是引起测试针脏的主要因素，空气在传播中的污染物，像灰尘会掉落在针头上引起接触问题，所以我们要对测试针的环境保养。
